Schneider Messtechnik auf der Control

Das Unternehmen zeigt sein High Tech Werkstattmikroskop WM 1

22. April 2008

Schneider Messtechnik, ein führendes Unternehmen aus dem Bereich der Fertigungsmesstechnik, präsentiert auf der Control (Halle 5.0 Stand 5502) das neue Werkstattmikroskop WM 1 300 S CNC – ein kleines und handliches High Tech System, das Messungen von Stanzteilen, Profilen, Kunststoffteilen, Werkzeugen, Gummiteilen, Dichtungen und vielem mehr erlaubt. „Durch die große Nachfrage nach der manuellen Version mit Multicount 3000 und integrierter Bildverarbeitung haben wir die Entscheidung schnell getroffen, unseren Kunden auch im Einstiegssegment ein optisch-taktiles Gerät in Schneider-Qualität anzubieten. So wie alle Modelle der Serie WM 1 bietet auch die 300 S CNC ein hervorragendes Preis-/Leistungsverhältnis und ist nicht zuletzt durch ihre schnelle Handhabung für vielfältige Anwendungsfälle einsetzbar“, berichtet Uwe J. Keller, Leiter Marketing & Vertrieb bei Schneider Messtechnik. Das Highlight des Systems ist natürlich die hauseigene Mess- und Auswertesoftware SAPHIR. Das Softwarepaket stellt den Einsatz mehrerer Sensoren sowie auch eines Zoomobjektives sicher – egal, ob grob- oder feintolerierte, matte oder glänzende, helle oder dunkle Werkstücke zu vermessen sind. Die serienmäßige Schwarz/Weiß Kamera für Auf- und Durchlichtmessung, programmierbare Sektorenauflichtbeleuchtung und der optional erhältliche taktile Taster sind die elementaren Voraussetzungen für einen zielgerichteten und kostenoptimierten Einsatz dieses Werkstattmikroskops. Die Produktpalette der Serie WM 1 umfasst die Modelle 250 mit Multicount 3000, 300 S mit SAPHIR manuell und 300 S CNC mit SAPHIR und CNC-Steuerung, so dass jeder Benutzer das auf seine Anforderungen zugeschnittene System auswählen kann. Das Werkstattmikroskop WM 1 300 S CNC bietet im Übrigen bei höchster Messpräzision einen Messbereich von bis zu 300 x 200 x 200 mm. Ein wesentliches Feature des Systems stellt auch die präzise, automatische Kantendetektion innerhalb des Messfeldes im Durch- und Auflicht durch intelligente Bildverarbeitungsalgorithmen dar.